第三方检测中心

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半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法

基础信息

标准号:SJ/T 11706-2018

发布日期:2018-02-09

实施日期:2018-04-01

制修订:制定

中国标准分类号:L55

国际标准分类号:31.2

技术归口:全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:信息传输、软件和信息技术服务业

标准类别:无

备案信息

备案号:63632-2018

备案日期:2018-05-25

备案公告:2018年第6号(总第222号)

起草单位

中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国科学院电子技术研究所等

起草人

刘芳、尹航、胡海涛 等