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微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法

基础信息

标准号:SJ/T 11705-2018

发布日期:2018-02-09

实施日期:2018-04-01

制修订:制定

中国标准分类号:L55

国际标准分类号:31.2

技术归口:全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:信息传输、软件和信息技术服务业

标准类别:无

备案信息

备案号:63630-2018

备案日期:2018-05-25

备案公告:2018年第6号(总第222号)

起草单位

中国电子技术标准化研究院、航天电子科技集团公司第七七二研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所等

起草人

安琪、林建京、张崤君 等