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硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法

基础信息

标准号:GB/T 1553-1997发布日期:1997-06-03实施日期:1997-12-01废止日期:2010-06-01标准类别:方法中国标准分类号:H21国际标准分类号:77.040.01 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门:国家标准委

采标情况

本标准等效采用ITU国际标准:ASTM F28:1990。采标中文名称:。

起草单位

峨嵋半导体材料厂

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