第三方检测中心

第三方检测中心

硅外延片

基础信息

标准号:GB/T 14139-1993发布日期:1993-02-06实施日期:1993-10-01废止日期:2010-06-01标准类别:产品中国标准分类号:H81归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门:国家标准委

采标情况

本标准非等效采用ITU国际标准:SEMI S2。采标中文名称:。

起草单位

上海第二冶炼厂

相近标准(计划)

20243061-T-469 300 mm硅外延片GB/T 14139-2019 硅外延片GB/T 14015-1992 硅-蓝宝石外延片GB/T 44334-2024埋层硅外延片GB/T 35310-2017 200mm硅外延片GB/T 30652-2023 硅外延用三氯氢硅GB/T 24575-2009 硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法20240139-T-469 硅外延用三氯氢硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法SJ/T 11470-2014 发光二极管外延片YS/T 1059-2015 硅外延用三氯氢硅中总碳的测定 气相色谱法