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半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理

基础信息

标准号:GB/T 12843-1991发布日期:1991-04-28实施日期:1991-12-01废止日期:2004-10-14标准类别:方法中国标准分类号:L55国际标准分类号:31.200 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会主管部门:工业和信息化部(电子)

起草单位

北京机械自动化所

相近标准(计划)

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