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宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

基础信息

标准号:GB/T 43226-2023发布日期:2023-09-07实施日期:2024-01-01标准类别:方法中国标准分类号:V25国际标准分类号:49.140 归口单位:全国宇航技术及其应用标准化技术委员会执行单位:全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会主管部门:国家标准委

起草单位

北京微电子技术研究所中国航天电子技术研究院

起草人

赵元富陈雷郑宏超李哲陈淼王汉宁王亮岳素格林建京李永峰

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