基础信息

标准号：GB/T 1558-2009发布日期：2009-10-30实施日期：2010-06-01废止日期：2024-07-01全部代替标准：GB/T 1558-1997标准类别：方法中国标准分类号：H80国际标准分类号：29.045 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门：国家标准委

采标情况

本标准修改采用其他国际标准：SEMI MF 1391-0704。采标中文名称:硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法。

起草单位

信息产业部专用材料质量监督检验中心峨嵋半导体材料厂中国电子科技集团公司第四十六研究所

起草人

何秀坤李静段曙光梁洪

相近标准(计划)

GB/T 1558-2023 硅中代位碳含量的红外吸收测试方法SN/T 2413-2010 进出口金属硅中总碳和硫含量测定 高频燃烧红外吸收光谱法GB/T 1557-2018 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法YB/T 178.6-2008 硅铝合金、硅钡铝合金碳含量的测定 红外线吸收法YB/T 178.7-2008 硅铝合金、硅钡铝合金硫含量的测定 红外线吸收法SJ/T 11491-2015 短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量SJ/T 10625-1995 锗单晶中间隙氧含量的红外吸收测量方法SJ/T 11496-2015 红外吸收法测量砷化镓中硼含量YB/T 109.6-2012 硅钡合金 碳含量的测定 红外线吸收法YB/T 109.7-2012 硅钡合金 硫含量的测定 红外线吸收法