基础信息

标准号：GB/T 4937.11-2018发布日期：2018-09-17实施日期：2019-01-01标准类别：方法中国标准分类号：L40国际标准分类号：31.080.01 归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-11:2002。采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所

起草人

张天福高金环于学东崔波张艳杰彭浩李树杰裴选迟雷

相近标准(计划)

20061452-T-339 电子设备用连接器 试验和测量 第11-4部分：气候试验 试验11d：温度快速变化20141818-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分:温度循环20201540-T-339 半导体器件机械和气候试验方法第10部分：机械冲击20193134-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分：密封20201547-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分：闩锁试验20231752-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分：标志耐久性20201539-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法20201546-T-339 半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法20201541-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第36部分：稳态加速度20193135-T-339 半导体器件机械和气候试验方法第7部分：内部水汽测量和其他残余气体分析