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半导体集成电路 快闪存储器测试方法

基础信息

标准号:GB/T 36477-2018发布日期:2018-06-07实施日期:2019-01-01标准类别:方法中国标准分类号:L56国际标准分类号:31.200 归口单位:全国集成电路标准化技术委员会执行单位:全国集成电路标准化技术委员会主管部门:工业和信息化部(电子)

起草单位

中国电子技术标准化研究院上海复旦微电子集团股份有限公司北京兆易创新科技股份有限公司中兴通讯股份有限公司中芯国际集成电路制造(上海)有限公司深圳市中兴微电子技术有限公司复旦大学

起草人

菅端端陈大为冯光涛倪昊田万廷高硕钟明琛罗晓羽赵子鉴董艺闵昊刘刚

相近标准(计划)

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