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硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法

基础信息

标准号:GB/T 26066-2010发布日期:2011-01-10实施日期:2011-10-01标准类别:方法中国标准分类号:H80国际标准分类号:29.045 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门:国家标准委

起草单位

洛阳单晶硅有限责任公司

起草人

田素霞张静雯王文卫周涛

相近标准(计划)

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