第三方检测中心

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硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法

基础信息

标准号:SJ/T 11493-2015

发布日期:2015-04-30

实施日期:2015-10-01

制修订:制定

中国标准分类号:H82

国际标准分类号:29.045

技术归口:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:无

标准类别:方法标准

备案信息

备案号:50550-2015

备案日期:2015-07-08

备案公告:2015年第7号(总第187号)

起草单位

信息产业专用材料质量监督检验中心、工业和信息化部电子工业标准化研究院、苏州晶瑞化学有限公司等

起草人

马农农、何友琴、何秀坤 等