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半导体发光二极管芯片测试方法

基础信息

标准号:SJ/T 11399-2009

发布日期:2009-11-17

实施日期:2010-01-01

制修订:制定

中国标准分类号:L45

技术归口:中国电子技术标准化研究所

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:无

标准类别:无

备案信息

备案号:26875-2010

备案日期:2014-12-26

备案公告:2010年第1号(总第121号)

起草单位

中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司等

起草人

鲍超、胡爱华 等