基础信息

标准号：GB/T 1551-1995发布日期：1995-04-18实施日期：1995-12-01废止日期：2010-06-01标准类别：方法中国标准分类号：H21归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门：国家标准委

采标情况

本标准非等效采用ITU国际标准：ASTM F397:1988。采标中文名称:。

起草单位

上海有色金属工业总公司

相近标准(计划)

GB/T 1551-2021 硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法YS/T 602-2007 区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法YS/T 602-2017 区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法GB/T 26074-2010 锗单晶电阻率直流四探针测量方法GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定扩展电阻探针法GB/T 39978-2021 纳米技术 碳纳米管粉体电阻率 四探针法DB13/T 5026.3-2019 石墨烯导电浆料物理性质的测定方法第3部分：浆料极片电阻率的测定四探针法DB/T 91-2022 直流地电阻率仪检测规范SJ/T 10481-1994 硅外延层电阻率的面接触三探针方法SJ/T 10314-1992 直流四探针电阻率测试通用技术条件