基础信息
标准号:GB/T 14144-1993发布日期:1993-02-06实施日期:1993-10-01废止日期:2010-06-01标准类别:方法中国标准分类号:H26归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门:国家标准委
采标情况
本标准等效采用ITU国际标准:ASTM F951:1987。采标中文名称:。
起草单位
中科院上海冶金研究所
相近标准(计划)
GB/T 14144-2009 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法GB/T 1557-2018 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法20233945-T-610 硅片径向电阻率变化测量方法SJ/T 11491-2015 短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量SJ/T 10625-1995 锗单晶中间隙氧含量的红外吸收测量方法SJ/T 11552-2015 以布鲁斯特角入设P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量GB/T 11073-2007 硅片径向电阻率变化的测量方法20231107-T-469 硅片氧沉淀特性的测试间隙氧含量减少法SJ/T 10627-1995 通过测量间隙氧含量的减少表征硅片氧沉淀特性的方法20232705-T-339 地面用晶体硅光伏电池总规范