基础信息
标准号:GB/T 26068-2010发布日期:2011-01-10实施日期:2011-10-01废止日期:2019-11-01标准类别:方法中国标准分类号:H80国际标准分类号:29.045 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门:国家标准委
起草单位
有研半导体材料股份有限公司中国计量科学研究院瑟米莱伯贸易(上海)有限公司洛阳单晶硅有限责任公司等
起草人
曹孜孙燕黄黎高英
相近标准(计划)
GB/T 26068-2018 硅片和硅锭载流子复合寿命的测试非接触微波反射光电导衰减法GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定光电导衰减法GB/T 42907-2023 硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法20250731-T-469 碳化硅外延层载流子寿命的测试 瞬态吸收法GB/T 42744-2023 微波电路 电调衰减器测试方法DB12/T 1015-2020 奶牛养殖场粪水中氮磷的测定 中红外衰减全反射光谱法GB/T 6620-2009 硅片翘曲度非接触式测试方法GB/T 19922-2005 硅片局部平整度非接触式标准测试方法20240036-T-339 半导体器件 第16-7部分:微波集成电路 衰减器SJ/T 11632-2016 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法