基础信息

标准号：GB/T 32279-2015发布日期：2015-12-10实施日期：2017-01-01标准类别：基础中国标准分类号：H80国际标准分类号：29.045 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门：国家标准委

起草单位

万向硅峰电子股份有限公司杭州海纳半导体有限公司有研新材料股份有限公司江苏协鑫硅材料科技发展有限公司浙江省硅材料质量检验中心南京国盛电子有限公司浙江金瑞泓科技股份有限公司中国有色金属工业标准计量质量研究所

起草人

朱兴萍楼春兰赵纪平王飞尧李慎重林清香戴文仙毛卫中马林宝孙燕杨素心邹剑秋

相近标准(计划)

20240317-T-415 国境口岸外来病媒生物输入风险评估规范20250980-T-469 网络安全技术 计算机基本输入输出系统（BIOS）安全技术规范20233945-T-610 硅片径向电阻率变化测量方法20250148-T-469 300 mm硅片表面纳米形貌的评价方法20250959-T-421 图书交易信息格式规范GB/T 34479-2017 硅片字母数字标志规范GY/T 168-2001 广播音频数据文件格式规范 广播波形格式（BWF）YS/T 28-1992 硅片包装YS/T 28-2015 硅片包装20240066-T-469 时空组学 数据集格式规范