第三方检测中心

第三方检测中心

碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法

基础信息

标准号:GB/T 30868-2014发布日期:2014-07-24实施日期:2015-02-01标准类别:方法中国标准分类号:H83国际标准分类号:29.045 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门:国家标准委

起草单位

中国电子科技集团公司第四十六研究所中国电子技术标准化研究院

起草人

丁丽周智慧郝建民蔺娴

相近标准(计划)

20231108-T-469 碳化硅单晶片微管密度测试方法20250729-T-469 碳化硅晶片表面杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法GB/T 43313-2023 碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试共焦点微分干涉法GB/T 31351-2014 碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法20231112-T-469 碳化硅单晶片厚度和平整度测试方法SN/T 2383-2009 液体化工品 密度和相对密度的测定 数字式密度计法SN/T 2383-2017 液体化工品密度和相对密度的测定数字式密度计法GB/T 34481-2017 低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法20232188-T-610 金属粉末 有效密度的测定 液体浸透法SH/T 1143-1992 工业用裂解碳四密度或相对密度的测定 压力浮计法