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硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法

基础信息

标准号:GB/T 1554-2009发布日期:2009-10-30实施日期:2010-06-01全部代替标准:GB/T 1554-1995标准类别:方法中国标准分类号:H80国际标准分类号:29.045 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门:国家标准委

起草单位

峨嵋半导体材料厂

起草人

何兰英王炎张辉坚刘阳

相近标准(计划)

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