第三方检测中心

第三方检测中心

氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法

基础信息

标准号:GB/T 32188-2015发布日期:2015-12-10实施日期:2016-11-01标准类别:方法中国标准分类号:H21国际标准分类号:77.040 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门:国家标准委

起草单位

中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所中国科学院物理研究所丹东新东方晶体仪器有限公司苏州纳维科技有限公司北京天科合达蓝光半导体有限公司

起草人

邱永鑫任国强王建峰陈小龙徐科赵松彬刘争晖曾雄辉王文军郑红军

相近标准(计划)

GB/T 34612-2017 蓝宝石晶体X射线双晶衍射摇摆曲线测量方法GB/T 41751-2022 氮化镓单晶衬底片晶面曲率半径测试方法YS/T 1653-2023 氮化镓衬底片SJ/T 11396-2009 氮化镓基发光二极管蓝宝石衬底片GB/T 37053-2018 氮化镓外延片及衬底片通用规范GB/T 36705-2018 氮化镓衬底片载流子浓度的测试 拉曼光谱法GB/T 32282-2015 氮化镓单晶位错密度的测量阴极荧光显微镜法GB/T 32189-2015 氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法20231111-T-469 半导体单晶材料透过率测试方法20231108-T-469 碳化硅单晶片微管密度测试方法