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碳化硅单晶片平整度测试方法

基础信息

标准号:GB/T 32278-2015发布日期:2015-12-10实施日期:2017-01-01标准类别:方法中国标准分类号:H21国际标准分类号:77.040 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门:国家标准委

起草单位

北京天科合达蓝光半导体有限公司中国科学院物理研究所

起草人

陈小龙郑红军张玮郭钰

相近标准(计划)

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