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碳化硅单晶片直径测试方法

基础信息

标准号:GB/T 30866-2014发布日期:2014-07-24实施日期:2015-02-01标准类别:方法中国标准分类号:H83国际标准分类号:29.045 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门:国家标准委

起草单位

中国电子科技集团公司第四十六研究所中国电子技术标准化研究院

起草人

丁丽周智慧蔺娴郝建民

相近标准(计划)

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