基础信息
标准号:GB/T 26070-2010发布日期:2011-01-10实施日期:2011-10-01标准类别:方法中国标准分类号:H17国际标准分类号:77.040.99 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门:国家标准委
起草单位
中国科学院半导体研究所
起草人
陈涌海赵有文提刘旺王元立
相近标准(计划)
20231113-T-469 半导体晶片直径测试方法GB/T 24578-2024 半导体晶片表面金属沾污的测定全反射X射线荧光光谱法SJ/T 11504-2015 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法SJ/T 11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法20231305-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱全扫描谱的准实时信息 含碳化合物表面污染的识别和校正规则20243001-T-469 稀土金属及其化合物物理性能测试方法 第2部分:稀土化合物比表面积的测试YS/T 27-1992 晶片表面微粒沾污测量和计数的方法GB/T 19921-2018 硅抛光片表面颗粒测试方法GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法