第三方检测中心

第三方检测中心

硅抛光片表面颗粒测试方法

基础信息

标准号:GB/T 19921-2018发布日期:2018-12-28实施日期:2019-07-01全部代替标准:GB/T 19921-2005标准类别:方法中国标准分类号:H21国际标准分类号:77.040 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门:国家标准委

起草单位

有研半导体材料有限公司浙江金瑞泓科技股份有限公司有色金属技术经济研究院上海合晶硅材料有限公司南京国盛电子有限公司天津市环欧半导体材料技术有限公司

起草人

孙燕刘卓张海英骆红张雪囡冯泉林徐新华刘义杨素心

相近标准(计划)

YS/T 25-1992 硅抛光片表面清洗方法SJ/T 11504-2015 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法SJ/T 11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法GB/T 6624-2009 硅抛光片表面质量目测检验方法20240136-T-469 金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法20240138-T-469 氮化铝单晶抛光片20240494-T-469 碳化硅单晶抛光片堆垛层错测试方法YS/T 1703-2024 晶片包装片盒表面颗粒的测试 液体颗粒计数法GB/T 4058-2009 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法20240826-T-469 颗粒 生物气溶胶过滤效率测试方法