基础信息

标准号：GB/T 8760-2006发布日期：2006-07-18实施日期：2006-11-01废止日期：2021-08-01全部代替标准：GB/T 8760-1988标准类别：方法中国标准分类号：H17国际标准分类号：77.040.01 归口单位：中国有色金属工业协会执行单位：中国有色金属工业协会主管部门：中国有色金属工业协会

起草单位

北京有色金属研究总院

起草人

王彤涵

相近标准(计划)

SJ/T 11490-2015 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法GB/T 8760-2020 砷化镓单晶位错密度的测试方法20240136-T-469 金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法GB/T 34481-2017 低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度（EPD）的测量方法GB/T 33763-2017 蓝宝石单晶位错密度测量方法SJ/T 11489-2015 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法GB/T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法GB/T 32282-2015 氮化镓单晶位错密度的测量阴极荧光显微镜法GB/T 11297.6-1989 锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法