第三方检测中心

第三方检测中心

硅抛光片表面质量目测检验方法

基础信息

标准号:GB/T 6624-2009发布日期:2009-10-30实施日期:2010-06-01全部代替标准:GB/T 6624-1995标准类别:方法中国标准分类号:H80国际标准分类号:29.045 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门:国家标准委

起草单位

上海合晶硅材料有限公司

起草人

徐新华王珍

相近标准(计划)

GB/T 4058-2009 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法SJ/T 11504-2015 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法YS/T 25-1992 硅抛光片表面清洗方法20240138-T-469 氮化铝单晶抛光片GB/T 43313-2023 碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试共焦点微分干涉法GB/T 19921-2018 硅抛光片表面颗粒测试方法SJ/T 10705-1996 半导体器件键合丝表面质量检验方法20243062-T-469 金刚石单晶抛光片20240142-T-469 蓝宝石单晶衬底抛光片20232266-T-605 热轧棒材和盘条表面质量等级